X-Tend

고해상도와 더 빠른 CT 스캔 능력을 제공하는 X-Tend

종래의 원형 CT 스캐닝과 비교하여, X-Tend는 고객이 샘플이 회전 할 때 높이가 큰 샘플을 X-ray 콘 빔으로 이동시켜 CT 스캔의 높이를 확장 할 수있는 CT 획득 방법입니다. X-Tend는 샘플을 나중에 부분적으로 다시 스캔 할 필요가 없습니다.

이 점

신속한 수집 및 처리

  • 동일한 배율에서 여러 번의 원형 스캔보다 빠릅니다.
  • 샘플 장착이 쉬움

향상된 이미지 품질

  • 콘 빔 가공물 없음 (수평 표면에서 더 나은 결과)
  • 원형 인공물 (ring artifact)가 없음
  • Stitching artifact 없음

증가된 해상도

  • 샘플은 단일 이미지에 들어갈 필요가 없습니다.
  • 높은 배율로 큰 샘플을 스캔

* X-Tend는 현재 MCT 225 시스템에서 사용할 수 있습니다.

X-Tend는 더 큰 샘플을 위한 CT 프로세스의 속도를 두 배로 향상시킵니다.

높이가 높은 부품은 종종 딜레마의 원인이 되는데,  이때 낮은 배율로 전체 부품을 스캔하거나 샘플의 섹션을 고해상도로 스캔하고 분석 소프트웨어와 함께 다시 stitch합니다.  첫 번째 경우에는 해상도가 낮아지고 데이터의 세부 묘사가 손실되며 후자의 경우 스캔, 재구성 및 다시 결합하는 데 훨씬 오래 걸리며,  최종 데이터에는 눈에 띄는 스티칭 인공물(stitching artefacts)을 내포하고 있습니다.  X-Tend는 샘플을 나중에 부분적으로 다시 스캔 할 필요가 없습니다.  또한 부품은 X-ray 빔을 통해 수직으로 움직이기때문에 장착하기가 쉽습니다.  이는 전체 샘플 처리 시간을 반으로 줄이면서 더 나은 이미지 품질을 제공합니다.

향상된 이미지 품질로 더 나은 통찰력

X-Tend는 콘빔 인공물(artefacts), 원형 인공물(artefacts) 및 스티칭 인공물(artefacts)을 제거하여 CT 스캔의 이미지 품질을 향상시킵니다.  이 모든 것은 원형 스캔 중에 존재합니다.  X-Tend는 또한 사용자가 X-ray 소스에 근접한 부분을 스캔 할 수 있게 하여 더 높은 해상도의 복셀(voxel) 크기를 만듭니다.  새로운 X-Tend 기술을 사용하면 이미지를보다 명확하고 해석하기 쉬워지며 결함 인식에 의심의 여지가 없으므로 궁극적으로 빠른 의사 결정 또는 시정 조치로 이어집니다.

CD 더미의 원형 스캔 : 더미의 가장자리에서 콘빔 효과

X-Tend 연속 획득 : 콘빔 아티팩트 없음