Leica EM UC7

Ultramicrotome

상온 및 저온 절편을 위한 초박절편기

초박절편 제작장비(Ultramicrotome)인 Leica EM UC7은 TEM, SEM, AFM 및 LM 조사를 위해 생물/산업체 시료를 완벽하고 매끄러운 표면으로 준비 할 수 있을 뿐만 아니라, 준초박절편(Semi-thin section) 및 초박절편(ultrathin secion) 제작이 용이합니다. Cryo chamber Leica FC7 장착시 저온 절편 작업 또한 가능합니다.

초박절편 제작장비의 새로운 표준

인체공학적 설계와 혁신적인 기술이 결합된 Ultramicrotome Leica EM UC7은 초박절편 제작장비의 새로운 기준이 되었습니다. 이는 숙련된 전문 기술자이든 초보자이든 상관없이 모든 사용자에게 다양하고 뛰어난 특성과 이점을 제공합니다.

Paper-free Reporting

10.4″ controller 장착시 사용자, 시료, 나이프 및 저장 매개변수와 같은 정보를 USB를 통해 Excel로 쉽게 다운로드 할 수 있습니다.

Improved visibility of knife-specimen area

3개의 독립된 내장형 밝기제어용 LED 광원과 추가 LED 스팟라이트가 뛰어난 조명을 제공합니다.

More workspace on your table

이온화장치(Ioniser)와 EM FC7 제어기가 Leica EM UC7 장치에 통합되어 추가적인 제어기가 필요하지 않습니다.

Knife use information

10.4″ 고사양의 컨트롤러(High End Controller)로 다이아몬드 나이프를 segmentaion함으로써 칼날의 모든 영역을 최적으로 사용할 수 있습니다.

산화막이있는 알루미늄 단면 (TEM 이미지)

Non embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리

구리 및 금의 층 단면 (TEM 이미지)

Non embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리

유리 기판 위의 비스무트 텔루 라이드 단면

Embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 절단

Si 웨이퍼 단면 (TEM 이미지)

Embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리

염화나트륨

Embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리

갈륨 아르세니드

Embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 절단

토너 파우더 섹션 (TEM 이미지)

Embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리

 

고무 입자 섹션 (TEM 이미지)

저온에서 다이아몬드 나이프로 절단

ABS 절단면 (TEM 이미지)
OsO4 염색, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리, HAADF

고 충격 폴리스티렌 절단면 (TEM 이미지)
OsO4 염색, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리, HAADF

면도날 횡단면 (SEM 이미지)

Non embedded, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리

선불 카드 절단면 (SEM 이미지)

Ru04 염색, 실온에서 다이아몬드 나이프로 단면 처리, 특수 플라즈마 식각 장치로 처리