RES102-이온 빔 밀링 시스템

Leica_EM_RES102_039_Kopie_08_3425d70a79Ion Beam Milling System

독특한 이온빔 밀링 시스템은 하나의 탁상형 장치 내에 TEM, SEM 및 LM 샘플의 준비(전처리)를 결합합니다.
높은 에너지 밀링에 더하여 낮은 이온 에너지를 이용해 매우 부드러운 시료 처리를 위해서도 사용될 수 있습니다.

  • TEM, SEM과 LM 샘플 준비를 위한 단일 벤치 탑 장치
  • LAN을 통해 밀링 프로세스의 외부 제어
  • 25mm 직경까지 시료의 제조
  • 완전히 컴퓨터로 제어되는 밀링 파라미터

Thin, clean, polish, cut slopes and structure your samples with the highest level of flexibility in the Leica EM RES102. The unique ion beam milling system combines the preparation of TEM, SEM and LM samples in one single benchtop unit.

A variety of sample holders allows a diverse range of applications to be carried out. In addition to high-energy ion beam milling, the Leica EM RES102 can also be used for very gentle sample processing using low ion energy.

For research use only

 

특징 및 장점

 

Effective and Cost efficient

One system for TEM, SEM and LM applications
SEM preparation of samples up to 25 mm diameter
Improved effectiveness in TEM sample preparation with the production of large electron transparent areas for TEM analysis
LAN capability for remote control and monitoring

Safe

Fully program controlled motorized ion source and sample movements for reproducible results

Native specimens

LN2 sample stage cooling to maintain the integrity of temperature sensitive samples

Easy operation

Integrated applications library
Integrated helpfiles and tutorial videos for beginners and maintenance

 

Images Leica EM RES102

 

TEM or SEM preparation – a matter of choice

To support the diverse range of application possibilities, the Leica EM RES102 can be equipped with a variety of sample holders for the preparation of TEM, SEM and LM samples. The load-lock system guarantees high sample throughput with fast sample exchange.

FIB Cleaning holder used to reduce the amorphizised layer of a FIB sample.

FIB
Cleaning holder used to reduce the amorphizised layer of a FIB sample.

TEM Cooling Holder for the preparation of temperature-sensitive samples in combination with the LN2 cooling device.

TEM
Cooling Holder for the preparation of temperature-sensitive samples in combination with the LN2 cooling device.

TEM Sample Holder (Quick Clamp Holder) for single and double-sided low angle milling down to 4°.

TEM
Sample Holder (Quick Clamp Holder) for single and double-sided low angle milling down to 4°.

SEM SEM clamp holder to hold small samples with maximum dimensions of 5 (H) x 7 (W) x 2 (D) mm. This holder can be easily transferred directly to the SEM without removing the sample.

SEM
SEM clamp holder to hold small samples with maximum dimensions of 5 (H) x 7 (W) x 2 (D) mm. This holder can be easily transferred directly to the SEM without removing the sample.

SEM Slope Cutter Holder for the production of cross-sectional (90°) and angled sections (35°) for SEM investigation of vertical structures sample. Specimens can be prepared at environment temperature or with LN2 cooling.

SEM
Slope Cutter Holder for the production of cross-sectional (90°) and angled sections (35°) for SEM investigation of vertical structures sample. Specimens can be prepared at environment temperature or with LN2 cooling.

SEM Sample Holder for the cleaning, polishing and contrast enhancement of SEM and LM samples at environment temperature or with LN2 cooling. The SEM holder allows to prepare a sample size up to 25mm diamter. An adapter is delivered to clamp commercial available SEM stubs with a 3.1mm diamter pin.

SEM
Sample Holder for the cleaning, polishing and contrast enhancement of SEM and LM samples at environment temperature or with LN2 cooling. The SEM holder allows to prepare a sample size up to 25mm diamter. An adapter is delivered to clamp commercial available SEM stubs with a 3.1mm diamter pin.

 

EM RES102 카타록 다운로드

 

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