제품소개
Nanoro-M /Optical Nanoscope
재료 분석을 위한 가장 강력한 광학 나노스코프
광학 회절 한계를 깨다!
연구 및 개발은 종종 기존 광학 현미경의 분해능을 넘어서는 200 nm 이하의 크기에 초점을 맞춥니다. 이 크기의 특징을 이미지화하기 위해 연구자들은 SEM, AFM 및 기타 비광학 이미징 도구를 사용합니다.
LIG Nanowise의 SMAL AIR 렌즈는 빛의 회절 한계를 넘어 100 nm 보다 더 미세한 특징도 분해할 수 있습니다. 그리고 Nanoro-M의 스캐닝 스테이지와 결합하여 샘플의 넓은 영역과 초고해상도 이미지를 풀 컬러로 제공할 수 있습니다.
일상적인 작업부터 초고해상도까지
Nanoro-M은 저해상도(10배)부터 초고해상도(SMAL/230배)까지 다양한 대물렌즈를 지원합니다.
풀 컬러크
Nanoro-M은 마이크로스피어 렌즈를 통해 색상 정보를 유지하면서 회절 한계를 뛰어넘는 이미지를 촬영할 수 있습니다.
빠른 샘플 스캐닝
당사의 소프트웨어 제품군과 나노미터 스테이지를 사용하면 표준 광학 현미경보다 훨씬 빠르게 다양한 해상도로 샘플의 넓은 영역을 빠르게 이미징할 수 있습니다.
비파괴적
기존의 초고해상도 기술과 달리 Nanoro-M은 비파괴적이므로 샘플의 본질을 손상시키지 않고 여러번 이미지를 촬영할 수 있습니다.
누구나 쉽게 사용 가능
Nanoro-M은 초고해상도 기능을 갖춘 완전한 광학 장치이므로 기존 백색광 현미경에 익숙한 사람이라면 누구나 쉽게 사용할 수 있습니다.
표준 광학테이블에서 작동
Nanoro-M은 까다로운 환경 조건 없이도 작동합니다. 클린룸, 진공 등이 필요 없는 표준 광학 테이블에서 작동합니다.
100 nm를 넘어서
SMAL 렌즈를 사용하면 NANORO M은 샘플에 따라 100nm 이하의 측면(lateral) 특징을 분석할 수 있습니다.
광역 스캐닝 및 스티칭
나노 정밀 스캐닝 스테이지와 맞춤형 스티칭 알고리즘을 탑재한 NANORO M은 10배 확대부터 초고해상도까지 다양한 해상도로 넓은 영역 스캔을 빠르게 이미징하고 스티칭할 수 있습니다.
파장 선택성
이 도구는 이미지가 관심 파장에 대해 초점이 맞는지 확인하는 데 사용할 수 있으며, 샘플이 파장에 비해 어느 정도 투명할 경우 특정 관심 영역이 가장 선명하고 높은 해상도로 이미지화되도록 할 수 있습니다.
220x – 240x 확대 / 나노급 정밀 스캐일
Nanoro-M은 사용하기 쉬운 소프트웨어 인터페이스를 통해 탁월한 광학 분해능과 확대율을 제공하도록 설계되었습니다.
백색광과 광학으로 구동
NANORO M은 완전 광학 기술을 사용하여 백색광 현미경의 모든 장점을 제공합니다. 사용이 간편하고 다양한 대물렌즈를 사용할 수 있으며, 비파괴적이고 최소한의 시료 준비만 필요합니다.
객관적으로 강력함
SMAL의 성능을 최대한 활용할 수 있는 유일한 현미경인 Nanoro-M은 고대비로 초고해상도 스캔을 수행하고 측면 조명 현미경을 통해 표준 백색광 현미경보다 더 많은 지형 데이터를 제공합니다.
카타록 다운로드
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